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CoverFeature  封面专题







                                                                                       CoverFeature

                                                                                           封面专题







                           应对EMC/EMI设计挑战的


                           5个领先EDA工具


                           5 Leading EDA Tools for EMC/EMI Design Challenges




                               编者注:《Microwave Journal》邀请了一些领先的EMC/EMI(电磁兼容/电磁干扰)
                           EDA(电子设计自动化)软件供应商简要介绍了它们各自的EMC/EMI软件的特点和解决问
                           题的独特能力。






                                                                    程中遇到的EMC问题。通过使用FEKO等仿真工
                                                                    具,减少了试制样品的数量和测试的次数,将
                                                                    传统的以测试驱动的开发流程转变为以仿真驱
                                                                    动设计。FEKO在EMC/EMI领域的重要应用包括
                                                                    了电磁辐射、电磁抗干扰、雷电效应、高强度
                                                                    辐射场(HIRF)、电磁脉冲(EMP)、电磁屏
                                         Altair/FEKO                蔽、电磁辐射危害以及天线耦合等。
                                      美国密歇根州TROY
                                                                    EMC仿真
                               FEKO助力大量工业领域的OEM厂商及其                     基于平台上多天线间的隔离度问题(图1)
                           供应商解决其在产品设计、分析和测试验证过                     是FEKO最擅长处理的问题之一。该飞机模型是
                                                                    EMC计算电磁学(CEMEMC)专题研讨会上展
                                                                    示的一个测试模型,属于EV55(属于HIRF-SE
                                                                    FP7 EU项目,EVEKTOR,spol.s r.o.和HIRF SE
                                                                    联盟拥有其版权)的变形版本。用户只需要根据
                                                                    求解问题的类型、电尺寸大小和复杂度等来选择
                                                                    FEKO中的一种求解器进行计算。FEKO中快速
                                                                    计算天线间互耦的一种方法是通过S参数,用户
                                                                    可以在不重复启动求解器的情况下通过一次计算
                                                                    可视化显示天线负载的变化对天线间耦合的影
                                                                    响,直观显示大量天线端口的耦合并绘制共址干
                                                                    扰矩阵来识别和分析耦合强度的等级。此外,
                                                                    FEKO的模型分解技术结合天线等效、EMC等效
                                                                    骚扰源可以降低对计算资源的需求。
                                                                    EMI设计的挑战
                                                                        用FEKO来解决EMI问题的案例非常多。
                 图1:由FEKO仿真得到飞机在1GHz时的内外空间磁场强度分布。                   例如,从车辆电缆束的辐射场耦合到挡风玻璃

      8                                                             Microwave Journal China  微波杂志  Jul/Aug 2017
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