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TechnicalFeature 技术特写

间的大规模互连接口，允许用户连接不 发和测试成本随着产品复杂度的增加而
同的连接件，如根据客户要求设计和制 增加。然而，平均售价却在不断下降，
造的特殊试验设备（STTE）（图5）。 因而要求测试成本不断降低。为了使系
产品销售价格
统保持盈利，测试成本必须以与制造价
产品
复杂度和成本 测试成本 基于平台的雷达ATE的优点 格相同或更快的下降速率降低。通过采
建立模块化雷达ATE系统架构需
用基于PXIe的平台，萨博不仅降低了测
要解决UUT的关键要求，如长颈鹿4A
试成本，而且通过减少系统尺寸和功耗
AESA雷达示例所示。基于PXI的模块化
ATE系统具有许多超过传统雷达测试方 提高了性能、可扩展性和测试速度。
ATE标准化
法的优势，包括成本、时间和标准化。 使用基于平台的方法对雷达ATE系
时间
节省时间和成本 统进行标准化的过程具有互换性的优
图7：高科技产品的复杂性和成本与时间 随着现代雷达测试的需求不断演变 点。随着新技术的推出，它可以无缝升
的关系。 和增加，BTE库为ATE增加了更多功能 级旧的测试系统、延迟或避免系统被淘
和仪器驱动程序和文档支持。由于系统 汰。基于PXI平台的雷达ATE具有可互操
令。系统包含一个用于控制ATE连接件 过时或无法满足新测
切换的NI继电器驱动器模块、一个用于 试要求等原因，传统
在ATE中路由信号的微波PXI开关模块、 的ATE系统需要在测
一个NI PXI数字万用表（DMM）和一 试车间内进行昂贵的 产品
个用于路由低频信号的PXI多路复用器 重组。开放的PXI架
模块。除了三个PXI机箱之外，ATE系 构可确保资源的有效 时间
统还包含两个19英寸机架，其中包含计 利用以及产品和工程
算机、配电电路、电源和Virginia Panel 的最佳复用。图6通
Corporation（VPC）接口，可根据UUT 过成本和时间的减少 测试系统
要求增加更多仪器信号路径。 显示了满足新雷达测
图 4 显示了 AT E 中基本测试设备 试要求所需工作的减 验证 生产 服务 客户
（BTE）的常规组件，每个组件的功能 少。
见表1。VPC接口用作测试仪器和UUT之 如图7所示，开 图8：测试策略与产品生命周期的相关性。

作的组件，通过LabVIEW等通用编程和
操作环境配合工作。随着时间的推移，
CONNECTIVITY CONNECTIVITY 这些系统的使用、操作和维护人员将不
需要专门的培训，从而节省了成本。
图8说明了测试策略与产品生命周
SYNCHRONIZA
SYNCHRONIZATIONTION
期之间的相关性。图中的“产品”曲线
表示在生产期间通过测试的产品数量，
“测试系统”表示ATE的总数。蓝色表
示测试软件，绿色表示测试硬件，黄色
表示表1中BTE列表的仪器。该图显示了
相比使用传统的ATE设备，生产线产量
面向新一代宽 增加了一倍以上。使用基于PXIe平台的
ATE方法进行标准化可确立与产品生命
带无线应用的 周期相关的长期测试策略。
mmWave 调制 总结

解调器 雷达设计和测试工程师在开发雷
达测试系统时必须仔细评估测试仪器
的规格，所做出的选择应能够最大限
度地提高投资回报。随着多功能雷达
（如AESA）的进步，测试系统变得越
来越复杂和昂贵，因此需要采用最先
进的模块化雷达测试系统，以满足测
更多信息，请访问 试要求，同时降低测试成本。通过使
idt.com/go/RapidWave 用基于NI PXI平台的方法对雷达ATE
框架进行标准化，萨博公司显著降低
了工程资源（包括成本和时间）的消
耗，从而满足日益复杂的高级AESA雷
达测试要求。■

46 Microwave Journal China 微波杂志 Jul/Aug 2017