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TechnicalFeature 技术特写

从产品

Base Test Equipment (BTE)
STC STI STF Automated Test Equipment (ATE) 到解决方案
STS – – AD & Microwave
STI-Standard Test Instrument ATE
STF-Standard Test Framework
STS-Standard Test Station RF 微波
STC-Standard Test Case STTE-A
n/ATE
STTE-B 毫米波
STTE-C
STTE-–
Ducommun (杜克曼)是一个
图4：BTE组件为UUT测试提供所需的资源。 成立于1849年，营额七亿美元
波。AESA天线的组件包括辐射元件和 员工五千的美国上市公司。
表1 基础测试设备的组件
天线结构、T/R模块和相关控制电路、
组件 功能 RF波束赋形器、直流配电和波束转向控 在标准及定制毫米波放大器
标准测试仪器 经认证可用于ATE的仪器列 制器。天线必须具有精确的主瓣（最大
(STI) 表，以及认证的仪器驱动程序 辐射方向涵盖的区域）、低旁瓣（以最 产品的设计，测试和制造方
标准测试框架 小化其它方向的辐射）以及快速主波瓣 面，Ducommun 积累了50
(STF) 构成ATE基础的软件标准 转向（用于波束赋形）。 年的经验
标准测试站 所有可用于构建ATE部件的其
(STS) 它材料 模块化雷达系统
标准测试用例 当前发布的用于测试管理的 为了测试和描述长颈鹿4A雷达子模
(STC) Test Stand序列版本
块的性能，萨博的工程师决定使用NI的 大功率，单一直流供电/内部偏置电路
PXIe-5668 26.5GHz多级超外差矢量信号
取弱反射信号，将其放大而不增加噪声 分析仪(VSA)。除了低杂波和谐波含量
或失真，并将其传输给处理器进行脉冲 外，NI VSA还提供了所需的动态范围，
解压缩/信号处理。接收机必须具有低噪 在765MHz的完整瞬时带宽下提供符合
声系数和高抗干扰性。接收机噪声（准 要求的扫描时间。
确来说是灵敏度）限制了雷达的监测范 PXIe-5668R的模块化结构非常适合
围。低相位噪声对于检测和跟踪目标的 萨博雷达测试台的标准。为了满足成本
微小变化至关重要。接收机还必须具有 和尺寸限制，萨博的测试工程师使用NI 32-36 GHz 功率放大器
较高的动态范围，以防止强杂波信号导 PXIe模块化仪器自行设计了一个相位噪 • 型号：AHP-34043530-01
致系统饱和。 声测量系统。相位噪声测量将采集的信 • 增益：30 dB (最小值)
天线：天线接收来自电磁（EM） 号分为两个通道，然后使用LO信号将 • 增益平坦度：+/- 2.0 dB (最大值)
场的能量并辐射由励磁机产生的电磁 每个通道转换为基带模拟波形，最后将 • 功率：34 dBm (P1dB)，35 dBm (Psat)
这些模拟波形馈送到数字化仪进行互相 Ka波段GaN功率放大器
关。该系统还使用其它PXIe仪器，如数
字I/O、驱动程序和开关模块来控制下变
频器、乘法器、分频器和开关电路。整
个相位噪声测量系统使用LabVIEW进行
控制。对于天线测试，测试工程师搭建
图5：VPC接口用于选择BTE的资源。 了一个室内测试场所，使用基于NI PXIe
的情景模拟装置模拟了战场情景，并通
ATE TPS STTE 过基于LabVIEW的应用程序进行远程访
100% 27-31 GHz、8W GaN 功率放大器
问（图2）。 • 型号：AHP-29043925-G1
测试装置基于LabVIEW所具有的 • 增益：25 dB（典型值），23 dB（最小值）
时间和成本 50% 个最先进的雷达ATE系统中。该ATE系 • Psat：39 dBm（典型值），38 dBm（最小值）
模块化特性可允许将许多仪器集成到一
• 22%功率附加效率
统包含三个机箱，配备五个PXIe-5654
射频信号发生器、四个PXIe-5696振幅
扩展模块以及一个带有低噪声微波前端 欲了解更多信息，
0% 的PXIe-5668R VSA（图3）。它还包含 请联系我们的销售团队 联系方式
2009 当今 2017 未来 +1 (310) 513-7256 或
一个带有低电压差分信号（LVDS）模 rfsales@ducommun.com
图6：测试新雷达系统的ATE成本和时间 块的NI FPGA板卡，主要用作控制器，
逐年降低。 向待测设备单元（UUT）发送和接收命

Microwave Journal China 微波杂志 Jul/Aug 2017 45